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鍍層測厚儀X熒光光譜儀

價格
¥1,880,000.00

型號
Thick800A

品牌

所在地
暫無

更新時間
2022-04-20 08:25:29

瀏覽次數

    X光金屬鍍層測厚儀是針對鍍層厚度測量,鍍層元素種類及含量的快速無損分析的需求,特別設計該款儀器,其特點可以概括以下幾點:1、上照式2、測試組件可升降3、小準直器4、高分辨率探頭5、自動定位高度6、測試口安全防護7、良好的射線屏蔽8、大樣品腔設計

    產品性能

     

    1、小準直器:≤0.1,可以進行小樣品測試(小點)的測試,從而提高測試的準確率和度。

    2、高度激光:自動定位高度,可滿足不規(guī)則表面樣品的測試

    3、高分辨率探頭:提高分析的準確性。

     

    產品配置

     

    X光金屬鍍層測厚儀標準配置為:X射線管,正比計數器半導體探測器,高清攝像頭,高度激光,信號檢測電子電路。

     

    性能指標

     

    X射線激發(fā)系統(tǒng) 垂直上照式X射線光學系統(tǒng)

    空冷式微聚焦型X射線管,Be窗

    標準靶材:Rh靶;任選靶材:W、Mo、Ag等

    X射線管:管電壓50KV,管電流1mA 

    可測元素:Ti~U 

    檢測器:正比計數管 

    樣品觀察:CCD攝像頭

    測定軟件:薄膜FP法、檢量線法 

    Z軸程控移動高度 20mm

     

    產品應用

     

    X光金屬鍍層測厚儀主要應用于金屬鍍層(鍍鎳、鍍鋅、鍍錫、鍍銅、鍍銠、鍍鈀、鍍銀、鍍金、鍍鉻等)厚度測試,廣泛應用于線路板、板材、汽車配件、五金工具、彈簧、電子連接器、五金端子、螺絲、半導體封裝材料等產品鍍層厚度測量。

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