供應(yīng)Langer 靜電場(chǎng)耦合? P331 L-ESD set

Langer ESD 200 ps型場(chǎng)耦合探頭組中包含的場(chǎng)源產(chǎn)生快速電場(chǎng)的和磁場(chǎng)的靜電放電脈沖場(chǎng)（200 ps）。這些場(chǎng)可以確定地、可復(fù)現(xiàn)地加載在集成電路上，從而確定集成電路對(duì)靜電放電場(chǎng)的抗干擾性。 其背景是扁平元件組和電子設(shè)備的靜電放電場(chǎng)抗干擾性。這些設(shè)備要經(jīng)受靜電放電測(cè)試（IEC 61000-4-2）。

供應(yīng)Langer 靜電場(chǎng)耦合? P331 L-ESD set

測(cè)試時(shí)與扁平元件組耦合的靜電放電干擾會(huì)產(chǎn)生除標(biāo)準(zhǔn)靜電放電脈沖場(chǎng)之外的快速電場(chǎng)和磁場(chǎng)（200 ps）。產(chǎn)生的場(chǎng)作用于扁平元件組的表面，并且能穿過(guò)集成電路的外殼。若這些場(chǎng)穿過(guò)集成電路，則在集成電路中產(chǎn)生干擾過(guò)程。 因此除了在集成電路引腳上的與電路耦合的靜電放電干擾之外，磁場(chǎng)和電場(chǎng)對(duì)集成電路的影響也是一個(gè)很主要的干擾途徑。