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FAI 微光發(fā)射顯微鏡EMMI

價格
電議

型號
FAI

品牌
FAI

所在地
北京市 海淀區(qū)

更新時間
2024-11-08 14:56:45

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    FAI 微光發(fā)射顯微鏡（EMMI）用于檢測半導體內(nèi)部缺陷引起的微光發(fā)射或微熱發(fā)射來準確定位半導體器件的失效位置。
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