QuaNix 4200 / 4500 涂層測(cè)厚儀 本儀器用于測(cè)量涂層(鍍層)厚度。 主要技術(shù)參數(shù) 1 、測(cè)量范圍:0-3000μm 2 、測(cè)量精度: 0-50μm ≤ ±1μm 50-1000μm≤ ±1.5% 1000-2000μm≤ ±2% 2000-3000μm≤ ±3% 3 、外形尺寸:100*60*27mm
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QuaNix 4200 / 4500 涂層測(cè)厚儀
本儀器用于測(cè)量涂層(鍍層)厚度。
主要技術(shù)參數(shù)
1 、測(cè)量范圍:0-3000μm
2 、測(cè)量精度: 0-50μm ≤ ±1μm 50-1000μm≤ ±1.5% 1000-2000μm≤ ±2% 2000-3000μm≤ ±3%
3 、外形尺寸:100*60*27mm