泰勒粗糙度儀DUO
內容簡介: 泰勒粗糙度儀DUO
SURTRONIC DUO粗糙度儀,可測Ra,Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。
技術參數(shù);
測量范圍:200µm
誤差:0.8mm±15%
分辨率:Ra:0.1µm-40µm
Rz::0.1µm-199µm
濾波器:ISO 2CR
尺寸:125×80×38mm
重量:200g
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泰勒粗糙度儀DUO
內容簡介:
泰勒粗糙度儀DUO
SURTRONIC DUO粗糙度儀,可測Ra,Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進行測量。
技術參數(shù);
測量范圍:200µm
誤差:0.8mm±15%
分辨率:Ra:0.1µm-40µm
Rz::0.1µm-199µm
濾波器:ISO 2CR
尺寸:125×80×38mm
重量:200g